梅特勒XPE微量分析天平新款上市
梅特勒XPE微量分析天平新款上市
XPE微量分析天平是一款可读性为 1ug的**密电子天平，将*大秤量与*小秤量有机的结合在一起。 可直接在较大的去皮容器中加样，从而有效的节省贵重的原材料并大幅降低实验成本。
梅特勒XPE微量分析天平新款上市，*大测量量程为52g,仪器内置有三种不同StatusLight 状态指示灯，通过观测不同颜色可方便的帮助您快速确认天平状态：绿色表示准备就绪，黄色表示警告，超出称量范围等错误用红色表示。
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梅特勒XPE微量分析天平新款上市
梅特勒XPE微量分析天平技术参数
型号
XPE26
XPE26DR
XPE56
*大称量值
22g
5.1g/22g
52g
可读性
0.001mg
0.002mg/0.01mg
0.001mg
重复性(sd)(加载处)
0.0025mg(20g)
0.008mg(20g)
0.005mg(50g)
重复性(sd)(5%加载)
0.0015mg
0.002mg
0.0015mg
线性误差
0.006mg
0.01mg
0.02mg
灵敏度漂移(校验砝码)
0.08mg(20g)
0.1mg(20g)
0.125mg(50g)
灵敏度温度漂移1
0.0001%/℃
0.0001%/℃
0.0001%/℃
灵敏度稳定性2
0.0001%/a
0.0001%/a
0.0001%/a
典型值
重复性(sd)(5%加载)
0.0007mg
0.0012mg
0.0007mg
线性误差
0.002mg
0.005mg
0.006mg
灵敏度漂移(校验砝码)
0.02mg(20g)
0.03mg(20g)
0.03mg(50g)
*小称量值(5%加载，k=2，U=0.10%)
1.4mg
2.4mg
1.4mg
*小称量值(5%加载，k=2，U=1%)
0.14mg
0.24mg
0.14mg
稳定时间
3.5s
3.5s/2.5s
3.5s
梅特勒XPE微量分析天平新款上市